| ДАТЧИКИ: | |
| + | линейные энкодеры |
| + | лазерные |
| + | 2D лазерные |
| + | конфокальные |
| + | угла поворота |
| + | наклона |
| + | сканеры |
| + | оптические микрометры |
| + | цифровые видеокамеры |
| ОБОРУДОВАНИЕ: | |
| + | электронные скобы |
| + | электронные ключи |
| + | магнитометры |
| + | УЦИ и регистраторы |
| + |
(ручные средства) |
| + |
(автоматизированные комплексы) |
| + | рельсо-измерительное оборудование |
| + | контроль скорости |
| + | измерение диаметра деревьев |
| + | 3D лазерные сканеры |
| + | онлайн системы измерения диаметра |
| + | производство ЭЛТ |
| + | энергетика |
| + | дорожное строительство |
| + | метрология |
| + | специализированные средства измерения |
| + | тренажёры |
|
|
Продукция |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
  |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
 |
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Обзор продукции :: О компании :: Каталог :: Цены :: Представительства :: Обратная связь | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| ООО "РИФТЭК", Логойский тракт 22, 220090, г. Минск, Республика Беларусь Тел./факс +375 17 281-35-13, +375 17 281-36- 57, тел +375 29 655-72-55 e-mail: info@riftek.com |
2001-2009 Design of Riftek |
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Предназначена
для автоматизации работ по выравниванию и точному позиционированию
узлов и механизмов, в частности, узлов турбинных агрегатов при
выполнении ремонтных работ на ТЭЦ.
Предназначены для измерения/контроля диаметра валов, в частности при
ремонтных работах на турбинном оборудовании. Исключают необходимость
подъема вала, что существенно повышает производительность и
удешевляет ремонт.
Приборы предназначены для измерения внешнего диаметра
цилиндрических деталей.
Аппаратура предназначена для контроля процессов горения в
газомазутных котлоагрегатах.
Предназначена для
автоматического контроля и регистрации процессов тепловых
перемещений по узлам шпоночных соединений, поверхностям скольжения
элементов мощных энергетических турбин с целью выявления
недопустимых отклонений и локализации дефектов.